濁度根分析儀

濁度根分析儀/濁度分析儀/濁度檢測儀/濁度測定儀/實(shí)驗室濁度計 型號:HAD-12C

濁度根分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
   硅酸根分析儀、磷酸根分析儀、聯(lián)氨分析儀、鐵含量分析儀、銅含量分析儀、濁度分析儀是我司業(yè)水質(zhì)分析程師制的種采用光電子制的智能型用光度檢測儀,適用于純水及純水中微量及恒量硅酸根、磷酸根、聯(lián)氨、鐵離子、銅離子、濁度的定量測定。
典型應用：
   可廣泛的運用火力發(fā)電廠(chǎng)電廠(chǎng)除鹽水、蒸汽冷凝水、爐水及化、制藥、化纖、半導體行業(yè)等行業(yè)樣水中硅酸根、磷酸根、鐵、銅、聯(lián)氨、氨、濁度等元素的定量測定。

標準:本儀器采用際標準ISO7027中規定的福爾馬肼（Formazine）濁度標準
產(chǎn)品點(diǎn)：
★  光源采用口單色冷光源 ，性能優(yōu)良，信號十分穩定，耗低，壽命長(cháng)
   保證使用20年以上，充分保證測量的穩定性和準確度；
★  接收光電池采用口元件，充分保證了測量的穩定性和準確度
★  路采用了空氣壓縮與虹吸原理避免多個(gè)樣品之間測量時(shí)各水樣之間的交 叉影響；
★  480X272點(diǎn)陣彩色液晶，可選擇顯示中文或英文；
★  配備堅固的防水外殼，只需要使用不加何試劑的水行校準，大大簡(jiǎn)化了校準過(guò)程，提了作效率；
★  有的線(xiàn)性校準能，實(shí)現寬范圍測量；
★  簡(jiǎn)單的八鍵位，操作快速、簡(jiǎn)單，背光可調；
★  富士通單片機,性能,低耗；
★  自動(dòng)計時(shí)提醒能，方便操作者使用，提作效率 ；
★  循環(huán)數據存儲能，自動(dòng)清除溢出數據，操作簡(jiǎn)單，查詢(xún)方便；
★  的貼片及體化，提了性?xún)r(jià)比和可靠性；
★  光度計采用新的模糊PID恒溫控制，保證測量的穩定性；
標：
測量范圍：     可選（0.00~100）NTU，（100~1000）NTU
儀器示值誤差： ±1%F.S  
分 辨 率：     0.1μg/L
重 復 性：     不大于1%
穩定性(漂移)：  ±1％F.S／8h
環(huán)境溫度：     5～55℃
環(huán)境濕度：     不大于90%RH(無(wú)冷凝)
顯  示：       480X272點(diǎn)陣彩色液晶，中文顯示
外形尺寸：     380 mm×180 mm×255mm（長(cháng)×寬×）
供電電源：     (85～265)VAC 頻率 (45～65)Hz
     率：   35W
重      量：   3.8kg

注三種型號區別

HAD-12A 480X272點(diǎn)陣清彩色液晶，可選擇顯示中文或英文

HAD-12B 口單片機處理器，穩定性提至8H以上減少漂移

HAD-12C 口單片機處理器，光源及光源接收器，誤差±1%F.S

2.個(gè)人劑量?jì)x/射線(xiàn)報警儀　型號：HAD-RAY-2000A

HAD-RAY-2000A個(gè)人劑量?jì)x（射線(xiàn)報警儀）是一款智能小型儀器，利用新型單片機技術(shù)制作而成，可在較惡劣環(huán)境下工作，具有很強的抗干擾能力，主要用來(lái)檢測χ射線(xiàn)和γ射線(xiàn)，從漢顯液晶屏能直接讀出射線(xiàn)“劑量率："；射線(xiàn)“累積劑量："和“存儲累積劑量："。在測量范圍內，可以固定或預置報警閾值，超過(guò)閾值或阻塞時(shí)發(fā)出聲光報警，防止超量劑量，保護工作人員安全。該儀器功耗低、功能多、體積小、佩帶方便。廣泛應用于工業(yè)探傷、核醫學(xué)、海關(guān)、民用防護等系統的日常輻射監測，確保個(gè)人劑量?jì)x使用者的人身安全。

特點(diǎn)：

靈敏度高，穩定可靠；

超大液晶顯示，并有漢字顯示功能，狀態(tài)顯示一目了然。

測量射線(xiàn)劑量率，同時(shí)顯示劑量率和累積劑量，有多種報警功能；

具有累積劑量存儲功能，斷電后數據可保存不丟失。

功耗低，體積小，攜帶方便。

儀器操作簡(jiǎn)單，使用方便。

二、產(chǎn)品性能

1、G-M計數管經(jīng)補償，低能響應得到提高。

2、儀器靈敏度高，對環(huán)境本底會(huì )有響應。

3、適用輻射場(chǎng)合γ、χ射線(xiàn)。

4、測量范圍：劑量率：0.01usv/h—5msv/h

             累積劑量：5位液晶顯示000.01—999.99msv

5、能響：＜±30%（50KeV—1.3MeV）。

6、相對基本誤差：＜±10%（137Cs 源662 KeVγ輻射1msv/h）。

7、報警響應時(shí)間：≤3秒。

8、報警功能

劑量率閾值報警：報警閾值為0.5、1.0、2.5、10、30、50usv/h。

9、本儀器具有累積劑量存儲功能。斷電后存儲器的數據可保存不丟失，可進(jìn)行100萬(wàn)次存儲擦除。

10、電池欠壓指示：在儀器液晶右上角顯示電池電壓圖標，電量標示滿(mǎn)三格電池電量大約2.8V-3.2V，電量標示二格電池電量大約2.5V-2.8V，電量標示一格電池電量大約2.1V-2.5V，電量標示無(wú)格電池電量在2.1V以下，處于欠電狀態(tài)。

11、工作環(huán)境要求：溫度：-10 -- +50℃ 濕度：達90%（無(wú)冷凝）

3.里氏硬度計/里氏硬度儀/手持式里氏硬度計　型號：HAD-YD-1000C

HAD-YD-1000C型里氏硬度計是一種新型的手持式、多功能動(dòng)態(tài)硬度測試儀器，它采用的微處理器技術(shù)設計而成。  

    HAD-YD-1000C型里氏硬度計具有測試精度高、性能穩定可靠、體積小、操作容易、攜帶方便、測量范圍寬等特點(diǎn)，適用于金屬材料的快速硬度測試，特別適宜對大型零部件及不可拆卸部件的現場(chǎng)硬度測試。它能把測得的里氏值根據不同材料、不同方向自動(dòng)轉換成布氏、洛氏、維氏、肖氏等硬度值并打印記錄，是一種較理想的硬度測試儀器。

二、產(chǎn)品性能

1. 主要用途：   

·大批量生產(chǎn)中產(chǎn)品的硬度檢測。   

·安裝后的機械或性組裝部件的現場(chǎng)硬度檢測。   

·重型工件的硬度檢測。   

·機械部件狹小空間的硬度檢測。   

·設備的失效分析。   

·倉庫金屬材料區分。   

·退火、回火、淬火等熱處理的硬度控制檢測。   

2. 主要技術(shù)參數   

測量精度：在同一測量范圍內，多次試驗值的平均測量誤差，不大于±0.8％（相對于800±50HL范圍內）。自動(dòng)換算成布氏（HB）、洛氏（HRC、HRB）、維氏（HV）硬度值時(shí)，其測量誤差為±3％~±12.5％，換算成肖氏（HSD）硬度值時(shí)，其測量誤差為±1.5％~±4.5％。   

工作溫度：0~40℃   

工作電壓：4.7V~6.0V   

測試方向：五種   

整機重量：0.67kg(標準配置：硬度計+D型沖擊裝置)   

外形尺寸：268×86×47mm   

一次充電工作時(shí)間：約8~24小時(shí)   

3. 主要功能   

·可在測試過(guò)程中隨時(shí)打開(kāi)或關(guān)閉背光照明；   

·可通過(guò)鍵盤(pán)預置測試日期；   

·可通過(guò)鍵盤(pán)選擇測試方向、測試材料；   

·可配置5種不同種類(lèi)的沖擊裝置（D、DC、D+15、C、G）；   

·可實(shí)現六種硬度（HL、HRC、HRB、HB、HV、HSD）間的相互轉換及硬度與抗拉強度間的相互轉換；   

·可打印無(wú)數份的試驗結果，并可刪除粗大誤差；   

·全屏幕顯示當前的測試狀態(tài)及測試值；   

·關(guān)機后，能記憶上一組測試結果及所有預置參數；   

·自動(dòng)顯示電池電壓，當工作電壓低于額定值時(shí)，屏幕字符閃爍報警。   

4. 沖擊裝置   

本硬度計可配置5種不同的沖擊裝置，其中D型為基本型，   

其余4種可應用于特殊場(chǎng)合的硬度測試。   

·沖擊裝置D：用于大部分硬度檢測。   

·沖擊裝置DC：用于非常局促地方（孔內、圓柱筒內）的硬度檢測。   

4.ROHS及無(wú)鹵素檢測儀 ROHS及無(wú)鹵素測試儀 型號：H17418

產(chǎn)品詳情： 

H17418是一種體現X射線(xiàn)熒光分析技術(shù)最新進(jìn)展的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀?？蛇M(jìn)行無(wú)鹵素（氯Cl、溴Br、碘I）測量它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的應用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡(jiǎn)單介紹。

整機技術(shù)規格：

激發(fā)源：本機采用低功率 X 射線(xiàn)管（Ag靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA

高壓電源：最大50W，50KV，1mA

探測器：電制冷   Si PIN半導體探測器（⁵⁵Fe的能量為5.9Kev的MnKα線(xiàn)，分辨率優(yōu)于149eV）

多道分析器：2048道

軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件。定量分析包括：經(jīng)驗系數法，理論a系數法和基本參數法。定性分析包括： KL線(xiàn)標記，譜圖比較和光標尋峰等?？蛻?hù)可進(jìn)行二次開(kāi)發(fā)，自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法。

6電源：交流220V  50Hz

7體積：520mm  x  600mm  x  270mm

8重量：約 42kg  (主機)

整機技術(shù)性能：

測量元素范圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量

可測量含量范圍，從ppm至100%

測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘

多元素同時(shí)定性定量

蜂位漂移：八小時(shí)小于1%

進(jìn)口探測器的性能指標：

探測器類(lèi)型：電制冷Si-PIN

探測面積：2.4x2.8mm（6mm²）

硅活化區厚度：500um

探測器分辨率： 對于⁵⁵Fe，@5.9keV  對于12us的形成時(shí)間，半高寬為149Ev

探測器窗口：鈹窗，12.5um厚

進(jìn)口高壓電源規格：

電壓和電流從零至滿(mǎn)量程連續可調，最大50KV，1mA

電壓調整率：負載調整率：從空載到滿(mǎn)載，電壓變化為滿(mǎn)量程的 0.01 %

線(xiàn)性調整率：對于規定的輸入電壓范圍，該數值為滿(mǎn)量程的0.01%

電流調整率：負載調整率：從空載到滿(mǎn)載，電流變化為滿(mǎn)量程0.01%

              線(xiàn)性調整率：對于規定的輸入電流范圍，該數值為滿(mǎn)量程的0.01%

穩定性：經(jīng)過(guò)半小時(shí)預熱后，每8小時(shí)變化不超0.05%

溫度系數：溫度變化一度，電壓變化不超過(guò)0.01%

5.貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號：H17417

產(chǎn)品詳情：

X-3680 貴金屬檢測儀

產(chǎn)品型號：H17417

產(chǎn)品詳情：

H17417是一種體現X射線(xiàn)熒光分析技術(shù)最新進(jìn)展的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的應用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業(yè)對不同元素進(jìn)行無(wú)損檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無(wú)損分析迅速，無(wú)需制樣，測試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調。檢測精度從PPM級別到千分之一級別。

強勢功能

1. 基本參數法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。

2．包裹樣品檢測辨別系統。

3．樣品室高清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。

4．電制冷與內部雙向循環(huán)冷卻恒溫系統相結合，維持內部工作環(huán)境穩定。

5. 內部動(dòng)力學(xué)風(fēng)道設計，快速排出多余熱量。

6．雙峰位快速自動(dòng)校準。

7．雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升級。

8．儀器工作方法任意開(kāi)發(fā)。

9. 定量分析：包括經(jīng)驗系數法，理論a系數法和基本參數法。

10.定性分析：包括Kl譜線(xiàn)標記法，譜圖比較法，光標自動(dòng)尋峰等。

11.測試報表根據客戶(hù)要求獨立設計。

12.溫度系數：溫度變化1度，電壓變化不超過(guò)0.01%

13.穩定性：經(jīng)過(guò)半個(gè)小時(shí)預熱后，每8小時(shí)變化不超過(guò)0.05%

14.準直器：使用特殊的濾波片自動(dòng)更換，提高高能區的峰背比。

15.彩色液晶顯示屏

16.自主研發(fā)的多功能數字集成新型放大器，提高降噪比。

 以上參數資料與圖片相對應