測厚儀的注意事項

測厚儀(thickness gauge )是用來(lái)測量材料及物體厚度的儀表。在業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。

主要類(lèi)型
用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制和檢修時(shí)須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時(shí)則要測定材料表面的覆蓋層厚度。根據測定原理的不同，常用測厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。

聲波測厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同介質(zhì)中聲速是常數。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時(shí)會(huì )被反射，測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。

磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時(shí)，測定值會(huì )因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦流測厚儀當載有頻電流的探頭線(xiàn)圈置于被測金屬表面時(shí)，由于頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線(xiàn)圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線(xiàn)圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān)，因而根據探頭線(xiàn)圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。

同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。

使用注意事項
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，聲波測厚法。

測量注意事項:

⒈在行測試的時(shí)候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

⒉測量時(shí)側頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。

⒌測量前要注意周?chē)渌碾娖髟O備會(huì )不會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì )將會(huì )干擾磁性測厚法。

⒍測量時(shí)要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì )影響測量的讀數。

⒏在行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此聲波測厚儀在行對側頭清除附著(zhù)物質(zhì)。

應用
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀(guān)察機械制中零件表面的微觀(guān)幾何形狀來(lái)測量產(chǎn)品的厚度，是種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量?jì)x器。它可直接輸出數字信號與業(yè)計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種業(yè)設備。

3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量度，具有數據輸出、意位置置零、公英制轉換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據聲波脈沖反射原理來(lái)行厚度測量的，當探頭發(fā)射的聲波脈沖通過(guò)被測物體到達材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測量聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測材料的厚度。