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元件測試儀是內臺符合LXI標準的新代阻抗測試儀器

更新時(shí)間:2018-10-17點(diǎn)擊次數:671

簡(jiǎn)要介紹
■元件測試儀是內臺符合LXI標準的新代阻抗測試儀器,其0.1%的基本度、20Hz~5MHz
的頻率范圍可以滿(mǎn)足元件與材料大分低壓參數的測量要求,可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二管、變壓器等行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和Q電感器的測量。
■產(chǎn)品速的測試速度使其別適用于自動(dòng)線(xiàn)的點(diǎn)檢機,壓電器件的頻率響應曲線(xiàn)分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個(gè)電感變壓器廠(chǎng)家的不同標準需求。
■產(chǎn)品以其的性能可以實(shí)現商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。
廣泛的測量對象
無(wú)源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件:變容二管的C-VDC性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料:半導體材料的介電常數、導電率和C-V性
液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V性

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